Skip to content
Español
Este sitio en otros países/regiones:
Seleccione el país para ver el sitio regional de Ametek.com
Portugués brasileño
Chino
Español
Inglés
Rusia
Toggle navigation
PRODUCTOS
SIMS
Introducción a SIMS
IMS 7f-Auto
IMS 7f-GEO
IMS 1300-HR³
KLEORA
NanoSIMS 50L
AKONIS
IMS Wf y SC Ultra
SIMS 4550
ACTINIS - IMS blindado
APT
Introducción a APT
Invizo 6000
LEAP 6000 XR
LEAP 5000
EIKOS
EPMA
Introducción a EPMA
SKAPHIA
MERCADOS
Geociencias
Análisis cuantitativo de piroxena (EPMA)
Estudio de inclusiones de masa fundida de tefra (EPMA)
Análisis de elemento de tierras raras (SIMS)
Isótopos estables: Carbón (LG-SIMS)
Isótopos estables: Magnesio (LG-SIMS)
Geocronología - Confirmación de la existencia de un antiguo “continente perdido” (LG-SIMS)
Geocronología de U-Pb en zircón (LG-SIMS)
Geocronología de monacita (EPMA)
Vulcanología: refrigeración y almacenamiento en frío de magma (NanoSIMS)
Biogeoquímica: análisis de biomineralización extracelular (NanoSIMS)
Ciencia ambiental
Dispositivos de protección nucleares: Análisis de isótopos U (LG-SIMS)
Microbiología ambiental: ecofisiología de bacterias fototróficas anaeróbicas (NanoSIMS)
Oceanografía microbiana: cuantificación de la contribución de microorganismos en los ciclos de C y N (NanoSIMS)
Minería
Oro invisible en pirita (NanoSIMS)
Agrupaciones de oro en Arsenopirita (APT)
Metales
Interdifusión en superaleaciones basadas en Ni (EPMA)
Interdiffusion in Ni-based superalloys (EPMA)
Detección de hidrógeno atrapado en aleación de aluminio (SIMS)
Perfilado de profundidad de oxígeno en acero recubierto de Zn (SIMS)
Comportamiento de oxidación en aleaciones de circonio (NanoSIMS)
Análisis de los límites de grano en metales (APT)
Material avanzado
Análisis de área pequeña en estructuras de alambre Sn-Cu (SIMS)
Segregación y difusión en materiales policristalinos (NanoSIMS)
Cultivo de nanoestructuras de metales nobles (NanoSIMS)
Análisis de interfaz en material magnetostrictivo (APT)
Investigación de los procesos de separación de cambio de fase (APT)
Materiales de energía
Monitoreo de adulterantes en dispositivos LED (SIMS)
Control de pureza en carga de alimentación PV Si (SIMS)
Materiales para energía y catálisis (SIMS)
Celdas solares de película delgada CIGS (SIMS)
Nuclear
Interdifusión U y Zr entre el combustible nuclear y el recubrimiento
Migración de helio en reactores nucleares (SIMS)
Mecanismos de alteración de cristal nuclear (SIMS)
Semiconductor
Perfilado de profundidad de implante poco profundo y profundo (SIMS)
Control de impurezas (SIMS)
Metrología de implante ultra poco profundo (EXLIE SIMS)
Caracterización de escala atómica de adulterantes (APT)
Ciencias biológicas
Protección radiológica: difusión de uranio a través de la piel (SIMS)
Biología celular: recambio proteico (NanoSIMS)
Biología celular: cuantificación de división de células madre (NanoSIMS)
Biominerales: análisis de impurezas en los dientes (APT)
SERVICIO/SOPORTE TÉCNICO
AMECARE
Soluciones de servicio
Capacitación
Actualización y accesorios
Upgrade kits for IMS 6f and 7f
Upgrade Kits for IMS 1270 / 1280 / 1280-HR
Upgrade kits for NanoSIMS 50 and 50L
Upgrade kits for IMS Wf and SC Ultra
Upgrade Kits for Quad SIMS Series
Upgrade Kits for EPMA (SX100, SXFive)
Upgrade Kits for APT (LEAP, EIKOS)
Software
WinCurve
WinImage II
APM
PeakSight
AP Suite 6
IVAS
Actualizaciones de software
Servicios de reubicación
Evaluación de visita de servicio
Línea directa
Encuesta de satisfacción del cliente
EMPRESA / NOTICIAS
Acerca de nosotros
Descripción general de la empresa
Declaración de la misión
División de análisis de materiales de AMETEK
News and Events
What's New
Conferences and Trade Shows
2022 Calendar Image Gallery
Understanding hydrogen embrittlement in steels
Investigating deep sea mineral deposits
Studying martian meteorites
Inhomogeneous oxidation of silicon carbide
Phase growth in additively manufactured metals
NanoSIMS reveals the symbiotic engine of green hydra
Element distribution in a quinary Ni-Cu-Ti-Zr-Hf alloy
NanoSIMS imaging of uranium nanoparticles in daphnia intestine
Measuring diffusion kinetics on the nanoscale
Measuring radiation enhanced precipitate evolution
NanoSIMS reveals the effects of cholesterol on cell membranes
Phase inversion in refractory high entropy alloys
NanoSIMS captures interkingdom nitrogen trafficking
2021 Calendar Image Gallery
Fe-rich KIV clusters in Cu-matrix
Hydrogen and oxygen diffusion in zircaloy
Manganese distribution in metapelitic garnet
Analysis of piperidinium additives
Soft magnetic materials analysis
Detection of oxygen impurities in gallium nitride
Investigation of fuel cladding tubes
Studying microbial consortia
A lunar agglutinate particle investigation
Copper wire manufacturing
Olivine from high porphyritic magma
Imaging of dopant distribution
Copper-platinum alloy
Enlaces
IMS xf Series
Large Geometry SIMS
NanoSIMS
IMS Wf / SC Ultra
EPMA - SX Product Line
Atom Probe
CONTACTO
Su camino hacia CAMECA
Oficinas centrales de CAMECA
CAMECA Atom Probe Technology Center
Distribuidores internacionales
Contáctenos
Registrarse para recibir noticias
SERVICIO/SOPORTE TÉCNICO
AMECARE
Soluciones de servicio
Capacitación
Actualización y accesorios
Upgrade kits for IMS 6f and 7f
Upgrade Kits for IMS 1270 / 1280 / 1280-HR
Upgrade kits for NanoSIMS 50 and 50L
Upgrade kits for IMS Wf and SC Ultra
Upgrade Kits for Quad SIMS Series
Upgrade Kits for EPMA (SX100, SXFive)
Upgrade Kits for APT (LEAP, EIKOS)
Software
WinCurve
WinImage II
APM
PeakSight
AP Suite 6
IVAS
Actualizaciones de software
Servicios de reubicación
Evaluación de visita de servicio
Línea directa
Encuesta de satisfacción del cliente
Línea directa
Contactos de soporte específicos del producto para instrumentos CAMECA
SIMS (IMS series, Quad SIMS, NanoSIMS), EPMA, LA-WATAP/FlexTAP:
Teléfono: +33 (0)1 43 34 62 37
o siga este enlace
.
APT (LEAP / EIKOS): wi-mad-leapproduct@ametek.com
MacCMS
×