Todas las técnicas de caracterización de materiales tienen sus propias fortalezas y debilidades. Un enfoque sinérgico entre técnicas complementarias como la espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) y la tomografía de sonda atómica (APT) podría potenciar el potencial de estas técnicas, permitiendo descubrimientos que cada una de ellas por separado no alcanzaría. Se resumirán las tecnologías estándar y de vanguardia de cada técnica, desde la preparación de muestras hasta la reducción de datos, y se discutirán ejemplos de las técnicas complementarias.
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🎙️ Sobre el orador
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Robert Ulfig ha trabajado con microscopios de sonda atómica en CAMECA en Madison desde 2001. Actualmente, trabaja para integrar las actividades y solicitudes de clientes internos y externos en el software y hardware más avanzado de CAMECA, a la vez que desarrolla nuevas aplicaciones y mercados. Rob se graduó de la Universidad de Wisconsin-Madison con títulos en Ciencias de los Materiales, Ingeniería Nuclear e Ingeniería Física. |