SIMS

La técnica SIMS proporciona una combinación única de sensibilidad extremadamente alta para todos los elementos desde hidrógeno a uranio y superiores (límite de detección hasta el nivel de ppb para muchos elementos), alta resolución lateral de imágenes (hasta 40 nm) y un fondo muy bajo que permite un alto rango dinámico (más de 5 décadas).
  • SIMS
    Introducción a SIMS

    Principios básicos de SIMS dinámico, que permiten la composición masiva y la distribución de profundidad de elementos traza con una resolución de profundidad que va desde subnm hasta decenas de nm.

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  • IMS 7f-Auto
    IMS 7f-Auto

    SIMS totalmente automatizado con límites de detección inigualables, optimizado para aplicaciones desafiantes como vidrio, metales, cerámica, a base de Si, III-V, II-VI, materiales a granel, películas delgadas

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  • IMS 7f-GEO
    IMS 7f-GEO

    Instrumento compacto SIMS de alto rendimiento para mediciones en muestras geológicas, es decir, isótopos estables, REE (elementos de tierras raras), elementos traza...

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  • IMS 1300-HR3
    IMS 1300-HR³

    Microsonda de SIMS de gran geometría con rendimiento analítico inigualable para aplicaciones de geociencia: isótopos estables, elementos traza, geocronología, análisis de partículas...

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  • KLEORA
    KLEORA

    La microsonda SIMS dedicada a la geocronología con sensibilidad de referencia para análisis isotópicos de U-Th-Pb in-situ en una plataforma de alto rendimiento y fácil de usar.

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  • NanoSIMS 50L
    NanoSIMS 50L

    La microsonda SIMS para el análisis de características ultra finas en materiales, geología, planetario y ciencias biológicas

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  • SC Ultra
    IMS Wf y SC Ultra

    Herramientas SIMS de baja energía y alto rendimiento para aplicaciones avanzadas de semiconductores: implantes extra superficiales y de alta energía, óxidos ultrafinos, compuerta de metal de alta k, SiGe, PV, LED, grafeno

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  • SIMS 4550
    SIMS 4550

    SIMS de cuádruplo que combina capacidades de perfilado de profundidad ultra superficial de referencia con operación fácil para aplicaciones de semiconductores.

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  • Shielded IMS
    IMS blindado

    Microsonda de iones blindado para la manipulación segura y el análisis isotópico y elemental preciso de muestras radiactivas.

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