IMS 7f-GEO

SIMS compacto y de alto rendimiento para laboratorios de geociencia
El IMS 7f-GEO es un modelo SIMS de colección única específicamente diseñado para realizar mediciones de alta precisión/alto rendimiento en muestras geológicas, es decir, isótopos estables, REE (elementos de tierras raras), elementos traza... También se usa para el análisis de ciencias de los materiales y estudios ambientales.
  • Descripción general de producto +


    Un sistema de detección único para la alta reproducibilidad de la relación de isótopos
    Derivado de nuestro probado instrumento IMS 7f, el IMS 7f-GEO está equipado con un sistema de detección nuevo y único que combina un sistema doble de detector de copa Faraday y un multiplicador de electrones. Gracias a esta configuración, el tiempo de adquisición se acorta y los análisis se ejecutan en un modo pseudo bi-colección asegurando la precisión sub-pormil para mediciones de relación de isótopos estables. El sistema de doble copa de Faraday se combina con un sistema de conmutación de pico de masa rápida (tan rápido como 0,3 segundos a una alta potencia de resolución de masa) para obtener más beneficios en términos de precisión y rendimiento de análisis.

    ... Y gran rendimiento de análisis mejorado
    El IMS 7f-GEO logra una mejora importante en el rendimiento del análisis gracias a la implementación del sistema doble de detector de copa Faraday, como se demostró en el ejemplo anterior (arriba a la derecha, análisis de relación de isótopos 18O/16O en cuarzo sintético).
    Para una precisión estadística requerida mejor que 0,4 por mil, el tiempo de medición podría ser > 3000 seg. mientras que se reduce a 56 segundos con el modo pseudo bi-colección del IMS 7f-GEO.
  • Vea lo que puede hacer el IMS 7f-GEO +

  • descargar documentación +

  • Publicaciones científicas +


    Una hoja de cálculo de Excel que recopila artículos de investigación científicos utilizando el IMS xf (IMS 3f, 4f, 5f, 6f, 7f, IMS 7f-Auto, IMS 7f-GEO). Los artículos están ordenados por las principales aplicaciones de la siguiente manera y se pueden buscar fácilmente con las funciones de búsqueda de palabras de Excel
    • Materials
    • Geosciences
    • Nuclears
    Descargue la hoja de cálculo aquí.

    No dude en ponerse en contacto con nosotros en cameca.info@ametek.com si no puede tener acceso a los archivos PDF por su cuenta. ¡También puede enviarnos cualquier referencia, pdf y suplemento que falte!
  • Enlaces a usuarios de IMS alrededor del mundo +

    Several hundred CAMECA IMS 6f, 7f, 7f-Auto and 7f-GEO are installed worldwide, the list below is only a very short extract from our customer list!

    Nanoscale Characterization and Fabrication Laboratory, Virginia Tech, USA

    Operated by the University's Institute for Critical Technology and Applied Science (ICTAS), the Nanoscale Characterization and Fabrication Laboratory serves the needs of researchers from VirginiaTech and from the surrounding industrial community, facilitating research in nanoscale engineering and the environment, fuel cells, paleobiology... The NCFL was one the first lab in the world to be equipped with a CAMECA IMS 7f-GEO.

    CalTech Center for Microanalysis, USA

    The Center for Microanalysis at Caltech houses a IMS 7f-GEO and a NanoSIMS 50L, providing expertise for microanalysis of geological, meteoritic and synthetic materials. Research projects carried out at CCM are most varied, ranging from cosmochemistry to experimental studies on climate change, geochronology, in-situ studies of microbial communities, materials science engineering...

    Helmholtz Zentrum Dresden Rossendorf, Germany
    The CAMECA IMS series instrument in Rossendorf is coupled to an accelerator mass spectrometer at the core of the "Super-SIMS" initiative of the Helmholtz Institute Freiberg for Resource Technology.

    University of Manitoba, Manitoba Regional Materials and Surface Characterization Facility, Canada
    Equipped with a CAMECA IMS 7f and several other instruments for materials characterization, the Manitoba Regional Materials and Surface Characterization Facility provides a unique resource to regional government and industrial researchers and enables world-class research into the chemical, structural and morphological nature of surfaces and bulk materials.

    CIM PACA, Arcsis, France

    Located in the South East of France, a basin for semiconductor production, CIM PACA is the flagship characterization platform of ARCSIS, a consortium that unites world-ranking semiconductor groups including Philips, STMicroelectronics, Texas Instruments etc... as well as several dozens of small and mid-size companies, engineering schools, research laboratories and universities of the region. CIM-PACA is dedicated to the design, test and validation of new semiconductor technologies.

    CC-MEM, Institut Jean Lamour / Ecole des Mines de Nancy, France

    The Centre de Compétences en Microscopie Electronique et Microsondes (CC-MEM) is a collaborative research facility hosted by the Ecole des Mines de Nancy. The IMS 7f delivered in 2009 at CC-MEM contributes to cutting-edge research in material sciences, metallurgy, nanosciences.

    Cinvestav, Seccion de electronica del estado solido, Mexico
    Created in 1961, Cinvestav (Advanced Studies Center of the National Polytechnic Institute of Mexico) is a leader institution in research and postgraduate education in Mexico and the world

  • Software +

    • WinCurve dataprocessing sofware
      WinCurve

      Desarrollado específicamente para instrumentos SIMS de CAMECA, WinCurve ofrece potentes capacidades de procesamiento y visualización de datos en un entorno fácil de usar.

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    • WinImage Software
      WinImage II

      Desarrollado específicamente para los instrumentos SIMS de CAMECA, WinImage II ofrece potentes capacidades de visualización, procesamiento e impresión de imágenes en un entorno de Windows? para PC Entorno.

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    • APM Software
      APM

      La medición automática de partículas (APM) es una herramienta de software de CAMECA que permite el filtrado rápido de millones de partículas, la detección de partículas y la caracterización isotópica.

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