PRODUCTOS

SIMS

Nuestros espectrómetros de masa de iones secundarios son una referencia mundial, que combinan una sensibilidad inigualable y límites de detección (incluso en elementos ligeros) con alta productividad.

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APT

Exclusivamente desarrollados por CAMECA, los instrumentos de tomografía de sonda atómica ofrecen una amplia capacidad para la medición composicional y la obtención de imágenes 3D a nanoescala.

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EPMA

Nuestros microanalizadores de sonda de electrones equipados con espectrómetros WDS líderes en la industria son reconocidos por su capacidad superior de mapeo de rayos X y análisis cuantitativo.
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LEXES

Utilizada por las principales compañías de semiconductores, nuestras herramientas de metrología de composición respaldan la innovación en el nodo de 14 nm y superior, asegurando la integración de nuevos procesos y la producción de alto volumen.
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