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EIKOS

La sonda atómica que permite el nanoanálisis 3D de alto rendimiento rutinario para la investigación y la industria
Con 30 años de éxito en la instrumentación y aplicación de tomografía de sonda atómica, CAMECA ha desarrollado EIKOS™, el microscopio de sonda atómica para el desarrollo rápido de aleación y la investigación de materiales a nanoescala.
  • Descripción general de producto +


    La sonda atómica EIKOS ofrece:

    • Tomografía tridimensional con caracterización a nanoescala de microestructuras
    • Detección atómica simple de alta resolución espacial con alta eficiencia
    • Misma sensibilidad para todos los elementos y sus isótopos
    • Medición de composición cuantitativo (escala de sub-nm a casi micrones)
    • Disponible en configuraciones de voltaje o voltaje y láser
    • Métodos de preparación de espécimen estándar


    EIKOS está disponible en 2 configuraciones:

    EIKOS
    El sistema EIKOS básico incorpora un diseño de reflectrones para proporcionar una excelente potencia de resolución de masa y señal a ruido. El electrodo del contador integrado alineado previamente garantiza la facilidad de uso y una alta confiabilidad. El sistema de pulsación de voltaje proporciona una calidad de datos muy alta en una amplia variedad de aplicaciones metalúrgicas.

    EIKOS-UV
    El sistema EIKOS-UV totalmente configurado combina todas las sorprendentes funciones del EIKOS básico (pulsación de voltaje, funcionalidad basada en reflectrones, electrodo contador alineado previamente) y agrega un módulo de pulsación láser totalmente integrado con el diseño de punto focalizado y controlado por computadora para proporcionar acceso a una gama de aplicaciones más grande.

    El sistema EIKOS básico se puede mejorar en el campo al EIKOS-UV.

  • Vea lo que puede hacer la sonda atómica EIKOS +

  • Descargar documentación +

  • View Recent Webinars +

    • Introduction to applications & technology of EIKOS-UV

      martes, febrero 25, 2020

      Optimized or efficiency and simplicity, EIKOS-UV™ delivers all the benefits of Atom Probe Tomography and addresses a wide range of applications: metals, coatings, thin films, ceramics, minerals, functional materials in both academic and commercial environments. Robert Ulfig (CAMECA) presents the main features and functionalities of CAMECA's latest atom probe tomography instrument.
      Register here to view at any time.
      Duration: 23 minutes
    • lunes, enero 1, 0001

    • lunes, enero 1, 0001

  • Video +

  • Usuarios de APT alrededor del mundo +

  • Software +

    • IVAS Software
      IVAS

      Específicamente desarrollado para las sondas atómicas de CAMECA, IVAS proporciona poderosas funciones de visualización y análisis para extraer información recopilada 1D, 2D y 3D recopilada en instrumentos APT de forma rápida y fácil.

      Seguir leyendo

  • Kits de actualización +

    Options for LEAP®

    Integrated Plasma Cleaner
    A fully-integrated, automated plasma cleaner offers both increased productivity and reduced cost of ownership for the LEAP system.

    Residual Gas Analyzer
    Allows partial pressure analysis of LEAP instrument. 

    LEAP 5000 VCTM
    The Vacuum and Cryo Transfer Module (VCTM) enables specimens to be transported between LEAP and ancillary workstations while maintaining both UHV and cryogenic conditions. The module utilizes a UHV-compatible portable chamber which is fully integrated (via a docking station) into the LEAP 5000. Note that the additional workstations must also be compatible with the VCTM and this is not included with this option. Please contact CAMECA sales for more details.

    Productivity Enhancement Package
    Extends the storage capacity of the LEAP system and includes a fully-integrated in situ heated carousel to reduce pump down times, increase specimen throughput and improve vacuum quality.

    Anti-vibration Package
    Active vibration isolation platform allowing the LEAP to be installed in environments not meeting vibration standards, this integrated solution combines active vibration cancellation together with an upgraded LEAP platform. Patented piezoelectric Technology cancels floor vibration in real time with active bandwidth starting at 0.6Hz.

    Seismic Kit
    Factory-fitted seismic restraint kit. Floor requirements must be met for purchase of this option.

    Field-Ion-Microscope (eFIM) Module
    Adds Field-Ion-Microscope (FIM) capability to LEAP system

    Options for LEAP® and EIKOS™

    Electro Pointer
    Simplex Electropointer(TM) for the production of electropolished LEAP specimens. Control PC and etchant chemicals not included.8.

    Manual Electropolisher
    The manual electropolishing unit is designed to allow maximum flexibility for production of specimens from a wide variety of materials. The item includes power supply, chemical handling and all accessories required to prepare high quality atom probe specimens. (Optical microscope and Chemical reagents are not included.)

    Adv sample prep kit
    Advanced specimen preparation kit includes key components required for advanced FIB-based specimen preparation.


  • Technical notes +