MERCADOS

• Geociencias
  • Análisis cuantitativo de piroxena (EPMA)
  • Análisis cuantitativo de piroxena (EPMA)
  • Análisis de elemento de tierras raras (SIMS)
  • Isótopos estables: Carbón (LG-SIMS)
  • Isótopos estables: Magnesio (LG-SIMS)
  • Geocronología - Confirmación de la existencia de un antiguo “continente perdido” (LG-SIMS)
  • Geocronología de U-Pb en zircón (LG-SIMS)
  • Geocronología de monacita (EPMA)
  • Vulcanología: refrigeración y almacenamiento en frío de magma (NanoSIMS)
  • Biogeoquímica: análisis de biomineralización extracelular (NanoSIMS)
• Ciencia ambiental
  • Dispositivos de protección nucleares: Análisis de isótopos U (LG-SIMS)
  • Microbiología ambiental: ecofisiología de bacterias fototróficas anaeróbicas (NanoSIMS)
  • Oceanografía microbiana: cuantificación de la contribución de microorganismos en los ciclos de C y N (NanoSIMS)
• Minería
  • Oro invisible en pirita (NanoSIMS)
  • Agrupaciones de oro en Arsenopirita (APT)
• Metales
  • Interdifusión en superaleaciones basadas en Ni (EPMA)
  • Interdiffusion in Ni-based superalloys (EPMA)
  • Detección de hidrógeno atrapado en aleación de aluminio (SIMS)
  • Perfilado de profundidad de oxígeno en acero recubierto de Zn (SIMS)
  • Comportamiento de oxidación en aleaciones de circonio (NanoSIMS)
  • Análisis de los límites de grano en metales (APT)
• Material avanzado
  • Análisis de área pequeña en estructuras de alambre Sn-Cu (SIMS)
  • Segregación y difusión en materiales policristalinos (NanoSIMS)
  • Cultivo de nanoestructuras de metales nobles (NanoSIMS)
  • Análisis de interfaz en material magnetostrictivo (APT)
  • Investigación de los procesos de separación de cambio de fase (APT)
• Materiales de energía
  • Monitoreo de adulterantes en dispositivos LED (SIMS)
  • Control de pureza en carga de alimentación PV Si (SIMS)
  • Materiales para energía y catálisis (SIMS)
  • Celdas solares de película delgada CIGS (SIMS)
• Nuclear
  • Migración de helio en reactores nucleares (SIMS)
  • Mecanismos de alteración de cristal nuclear (SIMS)
• Semiconductor
  • Perfilado de profundidad de implante poco profundo y profundo (SIMS)
  • Control de impurezas (SIMS)
  • Metrología de implante ultra poco profundo (EXLIE SIMS)
  • Caracterización de escala atómica de adulterantes (APT)
  • Metrología 3D FinFET (LEXES)
• Ciencias biológicas
  • Protección radiológica: difusión de uranio a través de la piel (SIMS)
  • Biología celular: recambio proteico (NanoSIMS)
  • Biología celular: cuantificación de división de células madre (NanoSIMS)
  • Biominerales: análisis de impurezas en los dientes (APT)