Participe en un taller gratuito en el que se presentarán líderes de opinión en análisis elemental, imágenes de alta resolución y nuevos métodos analíticos para caracterizar materiales con fines de investigación y control de procesos. Escuche cómo los investigadores de la Sociedad Max Planck para el Avance de la Ciencia, la Universidad de Friburgo y otros han utilizado la espectrometría de masas (APT y SIMS) y la microscopía electrónica (SEM y TEM) para avanzar en sus investigaciones que van desde
la metalurgia a
los semiconductores.
📍 Lugar de celebración: AMETEK GmbH, Rudolf-Diesel-Straße 16, 64331 Weiterstadt, Germany
📆 Fecha: Martes, 3 de junio de 2025
Este taller de un día está abierto tanto a usuarios principiantes como a expertos e incluirá tiempo suficiente para establecer contactos con expertos de CAMECA, Gatan y EDAX.
🚩Agenda
| Time |
Title |
Speaker |
Speaker Affiliation |
| 9:30 – 10:00 |
Welcome and introduction |
Wiebke Rumpf |
AMETEK GmbH |
| 10:00 – 10:30 |
Improving materials characterization by advanced EBSD analysis |
Dr. René de Kloe |
EDAX (now part of Gatan) |
| 10:30 – 11:00 |
Quantum leaps in EBSD analysis |
Dr. Stefan Zaefferer |
Department of Microstructure Physics and Alloy Design, Max Planck Institute for Sustainable Materials |
| 11:00– 11:30 |
Coffee break |
| 11:30– 12:00 |
Correlative APT-EBSD studies on energy materials |
Prof. Dr. Oana
Cojocaru-Mirédin |
INATECH, Albert Ludwig University of Freiburg |
| 12:00 – 12:30 |
The TOMO project– Integrating a fully functional atom probe in an abberation-corrected TEM |
Prof. Dr. Joachim Mayer |
Ernst Ruska – Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) |
| 12:30– 13:30 |
Lunch |
| 13:30 – 14:00 |
SIMS in material science: An introduction to analyzing thin films, nanostructures & more |
Dr. Stephanie Reiß |
CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH – CiS Analytics Competence Center CAK |
| 14:00– 14:30 |
Cryo-APT opens up new possibilities in materials analysis |
Dr. Tim Schwarz |
Department of Microstructure Physics and Alloy Design, Max Planck Institute for Sustainable Materials |
| 14:30– 15:00 |
Coffee break |
| 15:00– 15:30 |
Quantitative EPMA and SIMS analysis for industrial coatings |
Dr. Kirsten Schiffmann |
Head of Department Analytics and Quality Assurance,
Fraunhofer Institute for Surface Engineering and Thin Films IST |
| 15:30– 16:00 |
Micro- and nanoscale characterization using APT and SIMS |
Dr. René Chemnitzer |
CAMECA |
| 16:00 |
Hors d'œuvres and drinks
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