La
tomografía de sonda atómica (APT) proporciona información única sobre los materiales a escala atómica, pero lograr la reproducibilidad y reducir los artefactos en las muestras sigue siendo un desafío clave. Los instrumentos FIB-SEM convencionales basados en Ga a menudo introducen artefactos como implantación, difusión y capas superficiales amorfas, que pueden comprometer la precisión de los datos de composición.
Los sistemas FIB-SEM de plasma que utilizan iones de xenón (Xe) ofrecen una forma de mitigar estas limitaciones al reducir las interacciones ion-muestra y eliminar la contaminación relacionada con el galio. Los avances recientes en la conformación y la resolución del haz permiten ahora la preparación de puntas APT de alta calidad con una mayor reproducibilidad y rendimiento.
Con la última generación de tecnología FIB de plasma implementada en el TESCAN AMBER X 2, las mejoras adicionales en los parámetros del haz proporcionan no solo una mejor calidad de la muestra, sino también un funcionamiento significativamente simplificado. Estos avances hacen que los flujos de trabajo de FIB de plasma sean más intuitivos y accesibles, acercándose a la facilidad de uso tradicionalmente asociada con los FIB-SEM basados en Ga.
Este seminario web, organizado en colaboración con la Universidad de Sídney y CAMECA, presentará las capacidades del FIB-SEM de plasma TESCAN AMBER X 2. La discusión se centrará en los recientes desarrollos metodológicos que mejoran la precisión en la preparación de muestras para APT y demostrará cómo estas mejoras abordan los desafíos de larga data en el análisis de sonda atómica.
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Puntos clave:
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Aprenda cómo la columna FIB de plasma Mistral™ optimizada en el TESCAN AMBER X 2 permite la preparación de puntas APT de alta calidad y sin artefactos;
- Comprenda cómo las capas de daño reducidas mejoran la reproducibilidad y la precisión en los resultados de la tomografía de sonda atómica;
- Descubra flujos de trabajo optimizados que aumentan el rendimiento y la consistencia en la preparación de muestras APT específicas del sitio;
- Obtenga información sobre aplicaciones del mundo real y mejores prácticas desarrolladas en colaboración con la Universidad de Sídney.
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Ponentes:
Martin Sláma
Gerente de Marketing de Producto para soluciones FIB-SEM en Ciencia de Materiales, Grupo Tescan
Martin Sláma se desempeña como Gerente de Marketing de Producto para la caracterización 3D FIB-SEM y la preparación de láminas TEM en ciencia de materiales, aportando más de ocho años de experiencia con instrumentos FIB-SEM. A lo largo de su carrera utilizando la técnica FIB-SEM, se ha concentrado principalmente en métodos de preparación TEM tanto convencionales como avanzados utilizando las soluciones FIB de plasma y Ga+ FIB-SEM de TESCAN, junto con la caracterización de materiales a través de la tomografía 3D FIB-SEM. Antes de unirse a TESCAN, Martin participó en el desarrollo y la caracterización de nuevos materiales en la Universidad Tecnológica de Brno, CEITEC y la Universidad de Aston.
Felix Theska
Oficial Técnico Superior – Preparación de muestras para sonda atómica, Microscopía y Microanálisis de Sídney (Universidad de Sídney)
Como Oficial Técnico Superior en Microscopía y Microanálisis de Sídney en la Universidad de Sídney, Felix Theska apoya a los investigadores en la preparación de muestras para tomografía de sonda atómica y microscopía electrónica de transmisión. A lo largo de su carrera, ha utilizado herramientas FIB-SEM equipadas con columnas de Ga+, Xe+ y Ar+, así como capacidades analíticas como EDXS, EBSD y TKD para la preparación de muestras específicas de límites de fase, límites de grano, estructuras multicapa de película delgada y nanopartículas. Antes de incorporarse a Sydney Microscopy & Microanalysis, Felix trabajó como investigador postdoctoral en la Universidad de Nueva Gales del Sur (UNSW) en Sídney y como asistente de investigación en la Universidad Tecnológica de Ilmenau en Alemania.
Katherine Rice
Gerente de Aplicaciones APT, CAMECA
La Dra. Katherine Rice es Gerente de Aplicaciones en CAMECA Instruments en Madison, Wisconsin. Obtuvo su doctorado en Ingeniería Química en la Universidad de Colorado-Boulder y realizó una estancia postdoctoral del NRC en NIST-Boulder. Sus intereses de investigación incluyen EBSD por transmisión, síntesis de nanopartículas y tomografía de sonda atómica.